Falcon 800

Camtek开发的Falcon 800系列先进的测量系统用于凸起封装晶圆，并保证凸点达到他们严格的公差。
CTS，Camtek三角测量系统（专利申请中）应用了比已知的三角测量原理更新的方式，提高了一系列凸起技术的精度与可重复性。更宽的角度范围创造了更多种类凸起形状与材料更强和更稳定的反射，支持凸起的真3D几何重建。
Falcon 800更是特别设计用于最精细的金板的测量。
 

Falcon 500 PD

切割后检测是晶元层面捕捉加工程序的所有缺点的最后机会。Camtek的Falcon PD有着极好的侦测能力，包括表面、缺点标志、凹凸尺寸与定位变化，以及与切割相关其它缺点。

在切割的过程中单个的芯片彼此分离，与在晶圆上的原先位置相比会移位或转动，超出对比晶圆的定位范围。Falcon PD在扫描的同时进行实时对位、而没有任何的机械旋转，从而解决了这个难题。在节省了机械对位的同时，系统又能够在保证每个切片完美的定位的同时提供更高的产能。

Falcon 500

Camtek 的Falcon 500 系列是, 个用电子组件之电性/ 功能测试前后的高级芯片光学检测系统。以确保生产优良晶粒为设计原理。Falcon 500始终如一的侦测可以影响晶粒的整合性和内部导线可靠性的可见缺点。这台高产出率的系统是为了100%生产率而设的光学检测。
独有的逻辑分析能够确定侦测探针痕的尺寸，接近补垫边缘和探针下针数量。当装有Camtek的随意共焦彩色高度传感器(CCS)时，Falcon 500甚至能描绘被选取的探针痕之数据图。
我们所拥有的光学设备提供了高分辨率和对比。即使制程变化所引起的缺点并不明显，直接光照和简接光照系统仍能侦测到其它异常。Falcon 500的光学设备，照明和精密算法一起运行时，能提供极准确之低错报率的侦测。聪明且易上手的程序设置用以控制强大的运算系统让Falcon系列成为使用者之首选。

Camtek 的Falcon 500 系列是, 个用电子组件之电性/ 功能测试前后的高级芯片光学检测系统。以确保生产优良晶粒为设计原理。Falcon 500始终如一的侦测可以影响晶粒的整合性和内部导线可靠性的可见缺点。这台高产出率的系统是为了100%生产率而设的光学检测。 独有的逻辑分析能够确定侦测探针痕的尺寸，接近补垫边缘和探针下针数量。当装有Camtek的随意共焦彩色高度传感器(CCS)时，Falcon 500甚至能描绘被选取的探针痕之数据图。 我们所拥有的光学设备提供了高分辨率和对比。即使制程变化所引起的缺点并不明显，直接光照和简接光照系统仍能侦测到其它异常。Falcon 500的光学设备，照明和精密算法一起运行时，能提供极准确之低错报率的侦测。聪明且易上手的程序设置用以控制强大的运算系统让Falcon系列成为使用者之首选。

Camtek 的Falcon 500 系列是, 个用电子组件之电性/ 功能测试前后的高级芯片光学检测系统。以确保生产优良晶粒为设计原理。Falcon 500始终如一的侦测可以影响晶粒的整合性和内部导线可靠性的可见缺点。这台高产出率的系统是为了100%生产率而设的光学检测。 独有的逻辑分析能够确定侦测探针痕的尺寸，接近补垫边缘和探针下针数量。当装有Camtek的随意共焦彩色高度传感器(CCS)时，Falcon 500甚至能描绘被选取的探针痕之数据图。 我们所拥有的光学设备提供了高分辨率和对比。即使制程变化所引起的缺点并不明显，直接光照和简接光照系统仍能侦测到其它异常。Falcon 500的光学设备，照明和精密算法一起运行时，能提供极准确之低错报率的侦测。聪明且易上手的程序设置用以控制强大的运算系统让Falcon系列成为使用者之首选。

Camtek 的Falcon 500 系列是, 个用电子组件之电性/ 功能测试前后的高级芯片光学检测系统。以确保生产优良晶粒为设计原理。Falcon 500始终如一的侦测可以影响晶粒的整合性和内部导线可靠性的可见缺点。这台高产出率的系统是为了100%生产率而设的光学检测。 独有的逻辑分析能够确定侦测探针痕的尺寸，接近补垫边缘和探针下针数量。当装有Camtek的随意共焦彩色高度传感器(CCS)时，Falcon 500甚至能描绘被选取的探针痕之数据图。 我们所拥有的光学设备提供了高分辨率和对比。即使制程变化所引起的缺点并不明显，直接光照和简接光照系统仍能侦测到其它异常。Falcon 500的光学设备，照明和精密算法一起运行时，能提供极准确之低错报率的侦测。聪明且易上手的程序设置用以控制强大的运算系统让Falcon系列成为使用者之首选。

Falcon 600

Camtek的Falcon 600是一个多功能、灵活的检测平台，通过简单设定即可应用于多种特殊应用。Falcon 600系列可以处理安装在芯片框、伸缩环上的芯片或未加框的芯片，所有操作都在同一套系统，而且转换非常方便。
专为处理不加框及加框芯片而设，Falcon 600表现出了卓越的检测能力、高产出率，以及Falcon家族久负盛名的易操作性。
应用案例

• 接线MEMS芯片，尤其是顶部为玻璃的芯片，需要在不同的高度对多个表面进行检测。Falcon的多种设置功能将多重扫描路径的结果整合到了
•  一个生产周期中。
• 应用反射或散射光对透明、半透明、已曝光或未曝光的材料进行检查，可以发现上下表面或两者之间的缺陷。
•  配备了Camtek的专利适配器，Falcon可以像处理普通芯片一样，处理安装在扩展环（圈）上的芯片。
•  真空泵将生产多种MEMS传感器、光学设备和喷墨印刷头需要用到的穿孔芯片牢固地固定在承载盘上。
• Falcon的专用组件可以安全地处理那些由于自身重量而下垂的薄