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Filmetrics, Inc. 創建於 1995 年的 Filmetrics, Inc. 以使薄膜測量變得簡單而經濟有效為其宗旨。 在我們進入這個市場之前,商業薄膜測量儀器動輒就要 $50,000 美元或更多,而且需要操作人員預先接受培訓。 單次測量就要花費幾分鐘,甚至幾小時時間。Filmetrics 的方法就是設計經濟有效並為特定目的製造的微型光譜儀系統,而其低成本最近才由於硅探測器陣列技術的進步才得以實現。 我們把這一方法和先進的軟件相結合,我們的軟件能將先進的薄膜專門技術融入簡單而直觀的 Windows 界面。 其成果就是 F20,這是一種很緊湊的系統,具備令人驚異的速度和準確性,線上的操作人員只需要幾分鐘培訓即可使用儀器 – 而所有這一切只需傳統儀器幾分之一的成本。
我們提供連接到您基於 XP 或 Vista 計算機的全系列儀器,以及滿足您測量需求的可選附件。
易於使用而經濟有效地分析防反光塗層和鏡頭上的硬塗層F10-AR 是為了簡便而經濟有效地測試眼科防反光塗層而設計的第一台儀器。 只需要花費當今所用大多數儀器一部分的成本就可以購得,它所包含的幾項獨家先進技術使線上操作人員在極短的時間內就能讀完使用手冊,並只需要幾分鐘的培訓就可以進行操作。 在用戶定義的任何波長範圍內都能進行/不進行最低、最高和平均反射測試。 專門的算法能夠對硬塗層所產生的局部反射失真進行校正。 我們獨有的AutoBaseline 特性能極大地增加基線間隔而且和其他基於光纖探頭的反射儀器相比具有五倍高的精確度。 利用我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級能夠測量 0.25-15um 的硬塗層厚度。 即使在存在 AR 層的情況下也能對硬塗層厚度進行測量。無須對塗層背面進行準備 我們獨一無二的探頭設計能抑制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射,並在使用更厚的鏡頭時能抑制得更多。 就像我們所有的台式儀器一樣,F10-AR 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 端口上並在數分鐘內即可完成設定。
F10-AR 包括測量所需的一切。
普通的可選附件
此外,每台 F10-AR 都具備這些 Filmetrics 的好處:
F10-HC 包括測量所需的一切。.
此外,每台 F10-HC 都包括這些 Filmetrics 的好處:
F10-PA 包括連接到您的計算機 和進行測量所需的一切。
此外,每台 F10-PA 都包括這些 Filmetrics 的好處:
此外,每台 F10-VC 都包括這些 Filmetrics 的附帶好處:
*詳見 F20 數據表
此外,每台 F20 都包括這些 Filmetrics 的好處:
膜的測量厚度可以達到 500um Filmetrics F20-XT 經過最佳化可以測量厚的薄膜。 要測量大於 50 微米的薄膜是一種獨特的挑戰,因為經常會遇到較厚的光學厚度 (光學厚度 = 物理厚度 x 反射率)。 有些薄膜,例如硅的膜,也會在厚於幾微米時,在可見光波長下變得不透明。 為克服這些挑戰,基於F20-NIR 平台的 F20-XT 內配置了一個 512 元素的砷化銦鎵光譜儀。覆蓋了 1400-1650 nm 波長範圍的這個系統在近紅外區域內具有 0.5 nm 波長的分辨率,使其能夠比其他光學系統檢測更厚的薄膜。就像我們所有的台式儀器一樣,F20-XT 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 端口上並在數分鐘內即可完成設定。
F20-XT 包括測量所需的一切。.
此外,F20-XT 還包括這些 Filmetrics 的好處:
三種不同的 F40 型號,每種都覆蓋不同的波長範圍。 較長的波長一般用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
*詳見 F40 數據表
此外,每台 F40 都包括這些 Filmetrics 的好處:
普通的用途
各種 F42 型號都包括測量所需的一切。
此外,每台 F42 都包括這些 Filmetrics 的好處:
每種 F50 型號都包括以下列明的一切。 請注意,樣品夾頭必須另行訂購:
此外,每台 F50 都包括這些 Filmetrics 的好處:
每種 F60-t 型號都包括以下列明的一切。 請注意,樣品夾頭必須另行訂購:
此外,每台 F60-t 都包括這些 Filmetrics 的好處:
該系統有不同的配置方式,從低成本、手動加載台式系統到 BOLTS 集成計量模塊以及完全自動化的獨立輸送盒至輸送盒系統。如果您正在尋找新一代厚度計量技術的話,那麼,有了 Filmetrics F80 您就不必再到處尋覓了。 F80 就是化學機械研磨、化學氣相沉積、物理機械研磨和晶圓軌道工藝工程師們夢寐以求的工具。